一、应用领域
UTX850B是一款多功能的X射线荧光光谱仪，适用于：
1、RoHS检测
欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br、Cl、I等元素的检测
2、镀层检测
适合测试尺寸较大的五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀。特别适合较薄的Au、Ag、Pd等贵重金属电镀。
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等；
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。
3、镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的浓度检测，以及杂质元素Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn、Fe、Co、Mn、Sb等分析。
4、合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
合金钢中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb等成分
铜合金中的Cu、Zn、Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分
锌合金中的Zn、Cu、Fe、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分
焊锡中的Sn、Fe、V、Cr、Ni、Cu、Zn、Nb、Sb、W、Pb等成分
5、贵重金属鉴别
黄金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd等分析
铂金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd、Au等分析
钯金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr等分析
银饰品的纯度检测以及杂质Fe、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn等分析
6、食品及安全检测
日常食品中微量元素Fe、Ca、Zn、Cu、Pb、Cd、Ni等分析
各种补品中有效成分分析如补Ca口服液的Ca含量，补Zn口服液的Zn含量等
茶叶辨别：根据不同产地茶叶中微量元素不同，辨别茶叶种类和真伪
7、环境检测
汽油、柴油、煤油等中的含Pb、As、Cd等元素的检测
水质分析，分析河水、湖水、污水、地下水、饮用水中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb、Hg、Cd等元素
二、产品特点
1、从Al到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度1ppm到99.99%；镀层0.005um到35um
3、15-20 倍彩色CCD系统用于样品图像观察
4、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
5、多种滤光机制、多种规格滤光片针对不同样品
6、高分辨率SIPIN探测器，提高测量灵敏度
7、探测器电制冷，无需液氮
8、超大样品仓配合精密调节电动样品台，可以测量特大到特小的各种尺寸样品
9、FP基本算法软件
10、灵活的应用分析软件
11、仪器安装简单、快速
三、技术指标
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测定原理 |
能量色散型X射线荧光分析法 |
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测定对象 |
固体、液体、粉状 |
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测量功能 |
RoHS检测、卤素检测(Cl、Br、I、Br)，定性和定量 |
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单镀层、合金镀层、多镀层测厚、最多可测3层 |
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元素分析(材料成份分析) |
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镀液分析(电镀药水主盐成份分析) |
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测量极限 |
镀层厚度：0.01 um，元素分析：2ppm，RoHS限2ppm |
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厚度测量范围 |
0.01-35 um，(W、Au、Pb)10um、(Cu、Zn、Ni、)35um， |
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厚度测量误差 |
第一层小于±3%，第二层小于±8%，第三层小于±12% |
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元素分析测量范围 |
可测元素Al13-U92， |
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RoHS测试范围 |
2ppm-99.99% |
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RoHS测试精密度 |
相对标准差5%以下（含量大于500 ppm） |
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RoHS测试准确度 |
相对误差5%以下（含量大于500 ppm） |
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测试时间 |
测厚：10-60s，元素分析：10-60s，RoHS检测：200s |
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高压发生器 |
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高压包产地及品牌 |
美国（SPELLMAN） |
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输入电压 |
24VDC±10% |
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输出电压 |
0-50kV |
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输出电流 |
0-2.0mA |
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输出精度 |
0.01% |
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备注 |
有自动软件侦测功能 |
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X射线管 |
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X光管产地及品牌 |
美国（OXFORD） |
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X射线管靶材 |
W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 |
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X射线管窗口 |
Be窗 |
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电气参数 |
50W、4-50kV，0-1000uA |
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冷确方式 |
硅脂冷却 |
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使用寿命 |
15000-20000h |
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探测器 |
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探测器产地及品牌 |
美国（AMPTEK） |
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检测范围 |
Al13-U92 |
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分辨率 |
FWHM达139eV |
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探测窗口 |
铍窗，窗口面积：5-25mm2 |
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厚度 |
0.5-5mm |
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冷确方式 |
电制冷 |
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RoHS测量指标 |
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分析范围 |
1ppm—99.99% |
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精密度 |
相对标准差5%以下（含量大于500ppm时） |
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准确度 |
相对误差5%以下（含量大于500ppm时） |
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镀层测厚指标 |
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分析范围 |
0.01um—35um |
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第一层 |
相对标准差3%以下（厚度大于0.5um时） |
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第二层 |
相对标准差8%以下（厚度大于0.5um时） |
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第三层 |
相对标准差12%以下（厚度大于0.5um时） |
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谱处理系统 |
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处理器类型 |
全数字化32-bit3 DSP |
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谱通道数 |
256，512，1024，2048可供选择 |
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计数率 |
大于100000cps |
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能量范围 |
500eV-40960eV |
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死时间 |
<3% |
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光路系统和样品观测 |
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准直器系统 |
φ8mm*3 φ0.5mmφ2mm 5位可切换 |
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对焦系统 |
激光激光对焦 |
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滤光器 |
多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)可供选择 |
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样品观察系统 |
300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。 |
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样品室 |
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样品室内部空间（mm） |
（宽×高×深）：450×90×400mm |
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样品台尺寸 |
（宽×深）：250×275mm |
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样品台承载重量 |
≤5kg |
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试验样品最大尺寸 |
宽×高×深：440×80×390mm。 |
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样品台控制方式 |
高精密自动样品台 |
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工作台移动技术数据 |
X=200±5、Y=200±5、Z=80±5mm |
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工作台移动精度 |
0.005mm |
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计算机和软件 |
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控制计算机 |
联想品牌机M7150，1G内存，160G硬盘 |
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显示器 |
联想17寸LCD显示器 |
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操作系统 |
WindowsXP、OEM简体中文版 |
| 报告结果
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Word、Excel格式 |
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软件 |
RoHS检测软件、镀层测厚软件、元素分析软件 |
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软件类型 |
FP基本参数法软件 |
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软件语言 |
简体中文、繁体中文、英文、其它 |
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谱显示 |
自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较 |
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谱处理 |
总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合；对数谱 |
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资料分析 |
基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正 |
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重量和尺寸 |
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设备主体尺寸（mm） |
宽×高×深：W 580×H 635×D 770mm |
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主体重量 |
约80kg |
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使用环境 |
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工作环境 |
温度15-250C，湿度40-70%RH，温差变化+10C |
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电源系统 |
单相220V±10%，工作电压在充许范围内 |
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其它 |
1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置
2. 减少振动
3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体
4. 日光不能直射
5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定 | | 
