一、产品简介
UTX660是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：微波腔体凹槽、五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析；镀液分析。
镀层厚度检测
五金、接插件、电气连接器电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等；
PCB电镀Au、Ag、Cu、Ni、NiP、SnPb合金等
塑料、ABS、镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等
合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
黄铜中的Cu、Zn、Pb等成分
磷铜中的Cu、Zn、Sn、Pb等成分
焊锡中的Sn、Pb等成分
镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度
二、产品特点
1、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测
2、检测灵敏度0.01%到100%；镀层0.02um到40um
3、测量时间短，每个测量只需10-60秒
4、15-20倍彩色CCD系统用于样品图像观察
5、有多种形状和多种规格的准直器可供选用
6、大窗口正比计数器，提高测量稳定性
7、机械结构简单，可靠
8、FP基本算法软件
9、灵活的应用分析软件
10、仪器安装简单、快速
三、技术指标
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高压发生器 |
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输入电压 |
24VDC±10% |
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输出电压 |
0-50kV |
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输出电流 |
0-2.0mA |
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输出精度 |
0.01% |
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备注 |
有自动软件侦测功能 |
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X射线管 |
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X射线管靶材 |
W靶、Rh、Mo、Ag、Cr靶材可选 |
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X射线管窗口 |
Be窗 |
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电气参数 |
50W、4-50kV，0-1000uA |
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冷确方式 |
硅脂冷却 |
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使用寿命 |
15000-20000h |
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探测器 |
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检测范围 |
K19-U92 |
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分辨率 |
FWHM<760eV |
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探测窗口 |
铍窗，窗口面积：400mm2 |
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镀层测厚指标 |
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分析范围 |
0.01um—40um |
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第一层精密度/准确度 |
相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时） |
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第二层精密度/准确度 |
相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时） |
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测试深度 |
400mm |
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谱处理系统 |
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处理器类型 |
全数字化32-bit3 DSP |
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谱通道数 |
256，512，1024，2048可供选择 |
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计数率 |
大于100000cps |
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能量范围 |
1400eV-40960eV |
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死时间 |
<3% |
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光路系统和样品观测 |
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准直器系统 |
Φ1mm、φ2mm、φ0.5mm可切换 |
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对焦系统 |
激光激光对焦 |
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滤光器 |
多种滤光器(Ni、Cu、Mo、Al、Ti)可供选择 |
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样品观察系统 |
300万象素高清CCD摄像头，20倍光学变焦。 |
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样品室 |
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样品室内部空间（mm） |
（宽×高×深）：450×160×400mm |
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样品台尺寸 |
（宽×深）：250×275mm |
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样品台承载重量 |
≤5kg |
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试验样品最大尺寸 |
宽×高×深：440×150×390mm。 |
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样品台控制方式 |
简易手动样品台 |
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工作台移动技术数据 |
X=200±5、Y=200±5、Z=160±5mm |
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工作台移动精度 |
0.02mm |
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计算机和软件 |
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控制计算机 |
联想品牌机T4900V，512MB内存，80G硬盘 |
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显示器 |
联想17寸LCD显示器 |
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操作系统 |
WindowsXP、OEM简体中文版 |
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报告结果 |
Word、Excel格式 |
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软件 |
镀层测厚软件、元素分析软件 |
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软件类型 |
FP基本参数法软件 |
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软件语言 |
简体中文、繁体中文、英文、其它 |
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谱显示 |
自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较 |
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谱处理 |
总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合；倒数谱 |
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资料分析 |
基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正 |
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重量和尺寸 |
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设备主体尺寸（mm） |
宽×高×深：W 580×H 600×D 715mm |
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主体重量 |
约60kg |
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使用环境 |
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工作环境 |
温度15-250C，湿度40-70%RH |
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电源系统 |
单相220V±10%，工作电压在充许范围内 |
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其它 |
1. 不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置
2. 减少振动
3. 粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体
4. 日光不能直射
5. 作为地震的对策，要考虑装置的固定 | | 
