(peak intensity unit: CPS)-B(A , B：parameter of
your calibration curve)
1、Sigma单位是PPM，它等于系数A乘以感兴趣元素计数的Sigma再除以测量的时间（公式1表达的含义）。在一次测量中，时间是已知的，在公式2中进一步定义了感兴趣元素的计数的sigma等于峰计数加上底的计数再开平方，所以我们我们软件中的计算方法就是高斯拟合但并没有扣底的计算方法，一次测量完毕以后，其计数就算出了，感兴趣元素计数的Sigma也已知了，关键就要求出系数A了。
2、再来看A，实际上一次测量的结果X等于系数A乘以荧光强度I再减去系数B,再看看我们的工作曲线，横坐标表示含量X，纵坐标表示计数S，而S等于强度I乘以时间T，所以X=A*S/T-B，任意取工作曲线中的两个点就可以算出A、B的值了。系数A、感兴趣元素计数的Sigma、时间都推倒出，sigma的值就可以得出了。
3、实际上我们可以将公式1、2、3化简。步骤如下：
sigma=A*感兴趣元素计数S的Sigma/T
=A*S0.5/T (代入公式2) 公式4
由X=A*I-B
=A*S/T-B 可得
X+B=A*S/T
A*S=（X+B）*T
A=（X+B）*T/S
上式代入公式4 得到
Sigma=（X+B）*T S0.5/T S
=（X+B）/ S0.5
实际Sigma和含量、感兴趣元素计数的计数、以及系数B有关，系数B就是工作曲线在-X轴上的截距的绝对值。
我们再看看工作曲线，塑料曲线的B值一般比较小，而感兴趣元素计数的计数一般比较大，所以Sigma值一般比较小。而金属的恰恰相反。
SONY认为我们的Sigma的计算公式是非常科学的，正好符合IEC62321/1CD中文版第26页中关于用XRF筛选测试RoHS的结果分析的判断标准。
表2 IEC关于用XRF筛选测试RoHS的结果分析的判断标准
元素 |
聚合物材料 |
金属材料 |
电子元件 |
Cd |
P≤(70-3σ) |
P≤(70-3σ) |
LOD≤X<(250+3σ) ≤F |
Pb |
P≤(700-3σ) |
P≤(700-3σ) |
P≤(500-3σ) |
Hg |
P≤(700-3σ) |
P≤(700-3σ) |
P≤(500-3σ) |
Cr |
P≤(700-3σ) |
P≤(700-3σ) |
P≤(500-3σ) |
Br |
P≤(300-3σ) |
|
P≤(250-3σ) |
表中P表示合格，F表示不合格，X表示需要进一步确认分析。LOD表示检测极限。
另外，SONY公司还对仪器的操作手册、技术资料进行了详细的评估。对仪器的使用环境，操作员的操作水平等进行仔细的考察。所有做的这些都是为了防止错测、误判。
此次认证，SONY公司给予了大力的支持，东京总部和苏州分公司与优特公司之间经过了多次的技术探讨和实地仪器检测，在此对日本SONY公司表示由衷的感谢。对仪器使用厂商的大力配合也一并表示感谢。 | 
